2. Articole
Permanent URI for this collectionhttps://msuir.usm.md/handle/123456789/47
Browse
2 results
Search Results
Item PROPRIETĂŢI ELECTROFIZICE ALE STRATURILOR DE CdS OBŢINUTE PRIN METODA PULVERIZĂRII CU TRATARE TERMICĂ ÎN HIDROGEN(CEP USM, 2012) Botnariuc, Vasile; Gorceac, Leonid; Coval, Andrei; Cinic, Boris; Chetruș, Petru; Raevschi, Semion; Banu, SimionPrin metoda pulverizării chimice au fost crescute straturi de CdS din soluţii apoase de CdCl2/(NH2)2 CS cu molaritatea de 0,1 M în intervalul de temperaturi (250...450)°C. Straturile au fost tratate termic în flux de hidrogen timp de 20 min la temperaturile de 350 şi 450°C. Au fost cercetate proprietăţile electrofizice şi fotoluminescenţa acestor straturi. În straturile depuse la 450°C cu mărirea temperaturii de tratare până la 450°C se observă o uşoară micşorare a concentraţiei purtătorilor de sarcină. Spectrul fotoluminescenţei prezintă o fâşie largă în intervalul de energii 1,6...2,6 eV. Se observă un vârf al fotoluminescenţei cu energia de 1,95 eV, care se deplasează cu mărirea temperaturii de creştere a straturilor de CdS şi atinge valoarea de 2,5 eV pentru straturile crescute la temperatura de 450°C.Item STRATURI CdS CRESCUTE PE SUPORTURI DE STICLĂ PRIN METODA PULVERIZĂRII(CEP USM, 2012) Botnariuc, Vasile; Gorceac, Leonid; Coval, Andrei; Chetruș, Petru; Cinic, Boris; Raevschi, Simion; Micli, ValdecCdS layers were grown from aqueous solutions of cadmium chlorine (CdCl2) and thyourine (NH2)2 CS with the molarity of 0,1 M by pulverization method in the temperature range of (250...450)°C. CdS layers were grown on glass substrates covered with a previously deposited SnO2 layer. The deposited CdS layers morphology, atomic weight and composition were studied biasing a sunning electron microscope (SEM). The morphology, atomic weight and composition of the deposited CdS layers considerably changes with the increase of the deposition temperature. The charge carriers’ concentration and their mobility in CdS layers deposited at different temperatures were measured and estimated.