PROPRIETATILE ELECTRONICE A SUPRAFETEI STRATURILOR DE CdS DEPUSE PE SUPORTURI DE ZnO ȘI SnO2
| dc.contributor.author | Rotaru, Corneliu | |
| dc.date.accessioned | 2024-03-26T16:25:24Z | |
| dc.date.available | 2024-03-26T16:25:24Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description | ROTARU, Corneliu. Proprietatile electronice a suprafetei straturilor de CdS depuse pe suporturi de ZnO ȘI SnO2. In: Integrare prin cercetare și inovare: conferința științifică națională cu participare internațională. Ştiinţe ale naturii și exacte, 9-10 noiembrie 2023. CEP USM, 2024, pp. 645-648. ISBN 978-9975-62-690-3. | en |
| dc.description.abstract | Electronic properties of the CdS thin films deposited by Close-Spaced Sublimation have been investigated by Kelvin Probe (KP) and Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS). The Fermi level position changes between 180 meV and 320 meV below the conduction band minimum for the CdS/AZO heterojunction while the CdS thin films on SnO2 substrates show degeneration. An influence of the technology aspects on the energetic structure of the CdS nanolayer is shown. | en |
| dc.identifier.citation | ROTARU, Corneliu. Proprietatile electronice a suprafetei straturilor de CdS depuse pe suporturi de ZnO ȘI SnO2. In: Integrare prin cercetare și inovare: conferința științifică națională cu participare internațională. Ştiinţe ale naturii și exacte, 9-10 noiembrie 2023. CEP USM, 2024, pp. 645-648. ISBN 978-9975-62-690-3. | en |
| dc.identifier.isbn | 978-9975-62-690-3 | |
| dc.identifier.uri | https://msuir.usm.md/handle/123456789/14628 | |
| dc.language.iso | ro | en |
| dc.publisher | CEP USM | en |
| dc.subject | CdS | en |
| dc.subject | ZnO | en |
| dc.subject | SnO2 | en |
| dc.subject | Sondă Kelvin (KP) | en |
| dc.subject | Spectroscopie fotoelectronică (PYS) | en |
| dc.title | PROPRIETATILE ELECTRONICE A SUPRAFETEI STRATURILOR DE CdS DEPUSE PE SUPORTURI DE ZnO ȘI SnO2 | en |
| dc.title.alternative | SURFACE ELECTRONIC PROPERTIES OF CdS THIN FILMS ON ZnO AND SnO2 SUBSTRATES | en |
| dc.type | Article | en |