Электрофизические, фотоэлектрические свойства и элементный состав кремния, легированного примесными атомами селена [Articol]

dc.contributor.authorЗикриллаев, Н.Ф.ru
dc.contributor.authorШоабдурахимова, М.М.ru
dc.contributor.authorКариева, Л.С.ru
dc.date.accessioned2026-06-02T12:08:26Z
dc.date.issued2026
dc.description.abstractОписываются термодинамические условия получения кремния с нанокластерами примесных атомов селена без эрозии его поверхности с заданными электрофизическими параметрами. Показаны возможности получения образцов кремния с нанокластерами атомов селена при управлении давлением паров диффузанта. Установлено, что концентрация и размеры образованных нанокластеров примесных атомов в кремнии зависят от термодинамических условий и технологических режимов диффузии. Доказано, что примесные атомы селена в кремнии образуют нанокластеры, состоящие из четырех или шести атомов, которые значительно влияют на электрофизические и фотоэлектрические свойства кремния. Показаны возможности применения полученных образцов кремния, легированных примесными атомами селена, при создании полупроводниковых приборов с термостабильными и радиационно-стойкими параметрами.ru
dc.description.abstract The thermodynamic conditions for obtaining silicon with nanoclusters of selenium impurity atoms, without surface erosion and with the specified electrophysical parameters, are described. The possibilities of producing silicon samples containing selenium nanoclusters by controlling the vapor pressure of the diffusant are demonstrated. It has been established that the concentration and size of the formed nanoclusters of impurity atoms in silicon depend on the thermodynamic conditions and the diffusion process parameters. It is shown that selenium impurity atoms in silicon form nanoclusters consisting of four or six atoms, which significantly affects the electrophysical and photoelectric properties of silicon. The potential application of silicon samples doped with selenium impurity atoms for the development of semiconductor devices with thermally stable and radiationresistant characteristics is demonstrated.en
dc.identifier.citationЗИКРИЛЛАЕВ, Н.Ф.; М.М.ШОАБДУРАХИМОВА и Л.С.КАРИЕВА. Электрофизические, фотоэлектрические свойства и элементный состав кремния, легированного примесными атомами селена. Электронная обработка материалов, 2026, vol.62, nr.2, pp. 61-69. ISSN 0013-5739 (print), ISSN 2345-1718 (online). Disponibil: https://doi.org/10.52577/eom.2026.62.2.61ru
dc.identifier.issn0013-5739
dc.identifier.issn2345-1718
dc.identifier.urihttps://msuir.usm.md/handle/123456789/20823
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.52577/eom.2026.62.2.61
dc.language.isoru
dc.publisherUniversitatea de Stat din Moldovaro
dc.subjectкремнийru
dc.subjectполупроводникru
dc.subjectпримесьru
dc.subjectселенru
dc.subjectтемператураru
dc.subjectнанокластерru
dc.subjectдиффузияru
dc.subjectsiliconen
dc.subjectsemiconductoren
dc.subjectimpurityen
dc.subjectseleniumen
dc.subjecttemperatureen
dc.subjectnanoclusteren
dc.subjectdiffusionen
dc.titleЭлектрофизические, фотоэлектрические свойства и элементный состав кремния, легированного примесными атомами селена [Articol]ru
dc.title.alternativeElectrophysical and photoelectric properties, and elemental composition of silicon doped with selenium impurity atomsen
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
61_Zikrillaev N.F..pdf
Size:
285.08 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:

Collections