Ghilețchii, Gheorghe2024-02-262024-02-262024GHILEȚCHII,Gheorghe. Radiaţii X în aplicaţii avansate de cercetare a materialelor şi structurilor de diferită dimensionalitate. În: Analele Științifice ale Universității de Stat din Moldova. Lucrări Studențești. Științe ale Naturii și Exacte. Științe Economice. Chișinău. Editura USM, 2024, pp.13-18. ISBN 978-9975-62-671-2 (PDF)978-9975-62-671-2https://msuir.usm.md/handle/123456789/14011În lucrare au fost aplicate metodele de măsurare (XRD, GI-XRD, XRR etc.) bazate pe interacțiunea razelor X cu materialele cristaline cu diferită dimensionalitate și structură: pulbere (CdSe(c)), nanopulbere (CdSe), straturi subțiri semiconductoare policristaline (ZnSnN2/glass și Ga2S3/pSi), strat epitaxial (CaF2), suprarețea (PbTe/SnTe/Si(111)). A fost realizat studiul proprietăților fizice în funcție de parametrii tehnologici pentru: filmele ZnSnN 2 – ținte cu diferită concentrație atomară de Zn și Sn, diferite temperaturi ale suportului de sticlă; nanopulberi de CdSe – diferit timp de sintentizare; straturile subțiri semiconductoare policristaline Ga2S3/pSi – diferite temperaturi ale suportului și cicluri de depunere. Pentru măsurarea probelor s-a utilizat difractometrul Panalytical Empyrean cu geometria Bragg-Brentano cu tubul de raze X cu anod de Cu(λKα1=1,540598Å, λKα2=1,5444260Å).roArticle